製品情報

基板清浄度測定機 CM11+コンタミノメーター

ベアボード、実装基板、電子部品アセンブリのイオン性コンタミネーション測定、信頼性評価に。

IPC-TM-650.2.3.25に規定されるイオン性コンタミネーション（汚染物）の測定方法は、40年以上にわたり電子回路基板、電子部品や電子アセンブリの製造において重要な品質保証とプロセス管理ツールとして認められています。コンタミノメーターは長い間、電子分野におけるイオン性コンタミネーション測定QCツールとして世界的に高い評価を受けてきました。
IPC-J-STD001では、電子アセンブリの清浄度はNaCl換算値で1.5μg/cm²以下を要求しています。コンタミノメーターCM +シリーズは、導電率0.005mS/cm以下の優れた測定精度で、低い導電率でも高精度で測定が可能です。

（*）現代の高密度アセンブリでは、0.2µg/cm²程度のより高い清浄度が要求されることが一般的です。

機能・特長

独自の検出純金セルとアンプで高精度測定
テストは3分間で完了
短時間でのテスト溶液再生（約6分）
気泡の発生を抑える溶液循環
自動温度補正
IPC、MIL、DEF標準に準拠したテストに対応
操作・解析ソフトウェア
コンパクト卓上デザイン

PCソフトウェアでの簡単操作

基本仕様

最大基板寸法	250 x 300 x 36mm
最少基板面積	25cm²
測定レンジ	0.01～30μg/cm²NaCl換算値
繰返測定精度	±2%以下
装置寸法	390 x 360 x 525mm
重量	約30kg
機種	CM-11の他、対象ワークサイズに合わせて5機種のラインナップをご用意しております。

■メーカー(GEN3 SYSTEMS)ホームページへのリンク
Contaminometer (CM+ Series Process Ionic Contamination Testers)

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